（1）Ｘ線検査機の「かみこみ」検査技術に関する特許を取得！
食品など包装物のかみこみ不良は、包装体の開口部をシールした際に商品を挟み込んだり、袋がよれて皺になることによって発生します。かみこみ不良が発生すると気密性が保てず、商品の品質を保持できなくなるため検査する必要がありますが、包装紙によっては中の商品が見えないため、光学カメラや光電センサーで検知することができません。
そこでＸ線検査機が使用されますが、包装物は商品を収容したことにより膨らみ、外縁の一部がゆがんでいたり、袋が傾いていてシール領域を正確に特定できない場合があります。
このたびＡ＆Ｄが特許を取得した技術は、シール領域または収容領域のサンプル画像を取得し、そのサンプル画像を包装物のＸ線透過画像に適合させることにより、包装物のシール領域または収容領域を正しく特定し、良否判定を行う技術です。
特許番号：特許第 7499097 号
発行日：令和 6 年 6 月 13 日（2024.6.13）
発明の名称：Ｘ線検査方法および装置
特許権者：株式会社エー・アンド・デイ
発明者：大和田 憲太郎
（株式会社エー・アンド・デイ 第 1 設計開発本部）
